Sådan Kalibrer AFM Tips

En atomic force mikroskop (AFM ) er en enhed , der bruges til at måle meget små funktioner på nanoskala . De grundlæggende komponenter består af et lille fremspring , hvorpå en atomically skarp spids . I sin kontakt driftsform , er spidsen scannet over en overflade , og den bevæger sig op og ned med funktionerne på prøverne overflade . Dette giver en kort over prøvens overflade , der skal konstrueres. For korrekt at beregne højden af ​​prøven funktioner , der normalt AFM skal være calibrated.Things du har brug clipart Atomic force mikroskop
atomic force mikroskop tip
atomic force mikroskop kalibreringsprøve
pincet

Vis Flere Instruktioner
1

Monter AFM spidsen på spidsen holderen. Spids holderen består normalt af en fjederbelastet clips monteret på en plast -platform . Ved hjælp af en pincet , løfte en ny tip fra sin kasse og forsigtigt placere den på plastik -platformen . Tryk ned på fjederbelastet clips , så klippet løftes lidt . Ved hjælp af en pincet , skub forsigtigt spidsen under fjederbelastet clips og slip den. Spidsen skal holdes fast på plads.
2

Anbring spidsen på mikroskopet hovedet. Normalt spidsen indehaveren vil have en række små stik , der svarer til benene på mikroskopet hovedet. Plug forsigtigt spidsen holderen i benene på mikroskopet hovedet.
3

Monter kalibreringsprøve på scanningen scenen. Kalibreringsprøver består typisk af et net af linjer af kendt tykkelse , som regel omkring 20 nm .
4

Billede kalibreringen prøven. Brug af Scan- kontrol , bringe spidsen i kontakt med kalibreringsprøve og måle en passende størrelse billede, så gitteret kan ses.
5

Kalibrer AFM og drikkepenge. Når billedet er færdig , skal du kontrollere den målte værdi af gitter højde og sammenligne dette med tykkelsen af fabrikanten angivne kalibreringsprøve

Beregn forholdet mellem den faktiske tykkelse målt tykkelse : .

Kalibrering forholdet = Faktisk tykkelse /Målt tykkelse

for fremtidige tykkelsesmålinger bruger denne AFM spids , skal du bruge det omlejrede formel til at bestemme den rigtige tykkelse : .

Faktisk tykkelse = kalibrering forhold x Målt tykkelse